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VL-50B318-222DC光栅式低测力微测高仪，适用于易受测力影响的工件的厚度·高度的测量高精度测量。

518-341DC三丰高性能高度计测高仪，具有数据输出、气动浮选和交流适配器，是一种新开发的高精度、高分辨率线性编码器。这种仪器可以通过*的工艺来测量内外直径(通过跟踪测量来检测圆顶点和工艺)。功能包括参考图标键，SPC输出和RS-232C，一个带有背光的大LCD和一个滑动手柄/滚轮。去/±NG判断执行通过设置上、下公差。如果判断结果超出了公差，则显示背光由绿色变为红色，因此可以一目

QMH-518-230多功能一维高度计 0-350高精度数显测高仪，示值误差和重复性是使用标准附属品的ø5阶梯测头，测量平面部分的高度所得出的数值。不同于高度测量，在测量 直径、 最大(小)值、位移、圆间距时，因为扫描时测力会发生变化，可能会出现测量值大于表中数值的情况。

三丰518-360-13_LH-600_2D高精度测高仪卡尺，量可以通过图标命令来执行，支持一键操作，具有丰富功能的同时追求操作的简便性。

三丰192-663-10双立柱结构数显高度卡尺，可以使用双向触发式测头(选件)，双立柱结构确保实现高精度测量。*: 最大允许误差・E MPE是根据ISO/TR 14253-6: 2012进行了修订的JIS B 7517: 2018中的一个术语(表记)。

三丰SPC数显高度高度尺，日本三丰数显高度卡尺电子高度卡箍192-613-10 SPC 数据输出卡尺

Mitutoyo三丰数显测二维高度测量仪，二维高度测量仪示值误差可达(1.1+0.6L/600)μm。